Validation of the Spanish version of the Technostress Creators Scale in Chilean Workers

Salazar Concha, Cristian; Ficapal Cusí, Pilar; Peñarroja, Vicente; Enache Zegheru, Mihaela

Publication:
Validation of the Spanish version of the Technostress Creators Scale in Chilean Workers

dc.contributor.author	Salazar Concha, Cristian
dc.contributor.author	Ficapal Cusí, Pilar
dc.contributor.author	Peñarroja, Vicente
dc.contributor.author	Enache Zegheru, Mihaela
dc.date.accessioned	2022-11-15T15:32:00Z
dc.date.available	2022-11-15T15:32:00Z
dc.date.issued	2022
dc.description.abstract	The purpose of this study was to adapt and validate the Spanish version of the Technostress Creators Scale (TCS). The scale was adminis-tered to 1.047 Chilean professionals. The internal structure of the scale was tested by conducting exploratory and confirmatory factor analyses. The av-erage variance extracted (AVE) and the Fornell–Larcker criterion were used to examine convergent and discriminant validity, respectively. To in-vestigate concurrent validity, we focused on the relation between the TCS scale and role stress, which is a distinct, albeit conceptually related con-struct. Our findings supported a five-factor model consisting of 23 items distributed in five factors: techno-overload, techno-invasion, techno-complexity, techno-insecurity and techno-uncertainty. The Spanish version of the TCS had a high level of internal consistency, which was similar to the original scale. Appropriate evidence of concurrent validity was also shown. In addition, we conducted an international comparison of the re-search results with other relevant adaptations of the instrument reported in different cultural contexts. The results confirmed that the Spanish transla-tion of the TCS is a suitable instrument for measuring technostress and can contribute to an empirical examination of this phenomenon in Span-ish-speaking countries.	es
dc.description.abstract	El propósito de esta investigación fue adaptar y validar al espa-ñol el Inventario de Creadores de Tecnoestrés (ICT). La escala fue admi-nistrada a 1.047 trabajadores chilenos. Para analizar la estructura interna de la escala, se aplicaron análisis factoriales exploratorios y confirmatorios. La varianza media extraída (AVE) y el criterio de Fornell-Larcker fueron utili-zados para examinar la validez convergente y discriminante, respectivamen-te. Para valorar la validez concurrente, se ha analizado la relación entre la escala ICT y el estrés del rol, que es un constructo distinto, aunque conceptualmente relacionado. Nuestros resultados respaldaron un modelo que consta de 23 elementos distribuidos en cinco factores: tecno-sobrecarga, tecno-invasión, tecno-complejidad, tecno-inseguridad y tecno-incertidumbre. La versión en español del instrumento ofrece un alto nivel de consistencia interna, que es similar a la escala original. También se obtuvieron evidencias de validez concurrente. Además, se ha realizado una comparación internacional de los resultados de la investigación con otras adaptaciones relevantes del instrumento reportadas en diferentes contextos culturales. Los resultados confirmaron que la traducción al español del ICT es un instrumento adecuado para medir el tecnoestrés y puede contribuir a un examen empírico de este fenómeno en los países de habla hispana.	es
dc.format	application/pdf	es
dc.format.extent	12	es
dc.identifier.citation	anales de psicología / annals of psychology, 2022, vol. 38, nº 3
dc.identifier.doi	https://doi.org/10.6018/analesps.509551
dc.identifier.issn	1695-2294
dc.identifier.issn	0212-9728
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10201/125605
dc.language	eng	es
dc.publisher	Universidad de Murcia. Servicio de Publicaciones	es
dc.relation	Sin financiación externa a la Universidad	es
dc.rights	info:eu-repo/semantics/openAccess	es
dc.rights	Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 Internacional	*
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/	*
dc.subject	Technostress	es
dc.subject	Technostress creators	es
dc.subject	Scale validation	es
dc.subject	Exploratory factor analysis	es
dc.subject	Confirmatory factor analysis	es
dc.subject	Tecnoestrés	es
dc.subject	Creadores de Tecnoestrés	es
dc.subject	Validación de escalas	es
dc.subject	Análisis factorial exploratorio	es
dc.subject	Análisis factorial confirmatorio	es
dc.subject.other	CDU::1 - Filosofía y psicología::159.9 - Psicología	es
dc.title	Validation of the Spanish version of the Technostress Creators Scale in Chilean Workers	es
dc.title.alternative	Validación de la versión en español del Inventario de creadores de tecnoestrés en trabajadores chilenos	es
dc.type	info:eu-repo/semantics/article	es
dspace.entity.type	Publication	es