Test de circuitos digitales mediante patrones de entradas generadas por métodos algebráicos / Pablo Pérez Trabado ; directores Antonio Llopis Ruiz, Julio Ortega Lopera.

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Test de circuitos digitales mediante patrones de entradas generadas por métodos algebráicos / Pablo Pérez Trabado ; directores Antonio Llopis Ruiz, Julio Ortega Lopera.

dc.contributor.author	Pérez Trabado, Pablo	es
dc.date.accessioned	2013-05-10T10:52:02Z
dc.date.available	2013-05-10T10:52:02Z
dc.date.issued	1995	es
dc.description	Tesis-Universidad de Murcia.	es
dc.description	INFORMATICA. DEPOSITO. Tesis 6.	es
dc.description	Consulte la tesis en: BCA. GENERAL. ARCHIVO UNIVERSITARIO. T.M.-1150.	es
dc.format	application/pdf	es
dc.format.extent	291 p.	es
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10201/30805
dc.language	spa	es
dc.publisher	Murcia : Universidad de Murcia, Departamentode Ingeniería Mecánica y Energética,	es
dc.rights	info:eu-repo/semantics/openAccess	es
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/	es
dc.subject	Circuitos integrados digitales	es
dc.subject	Diseño y construcción	es
dc.subject.other	621.3.049.77(043)	es
dc.title	Test de circuitos digitales mediante patrones de entradas generadas por métodos algebráicos / Pablo Pérez Trabado ; directores Antonio Llopis Ruiz, Julio Ortega Lopera.	es
dc.type	info:eu-repo/semantics/doctoralThesis	es
dspace.entity.type	Publication	es

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